SJ 50033.55-1994 半导体分立器件.2CK82型硅开关二极管详细规范
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ID： |
159D29DA4D414489BB5F0067C0D107DF |
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文件大小(MB)： |
0.43 |
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9 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033. 55-94,半导体分立器件,2CK82型硅开关二级管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for type 2CK82,silicon switching diode,1994-09 - 30 发布1994-12^01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2CK82型硅开关二级管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for type 2CK82,siHcon switching diode,SJ 50033.55—94,范围,1-I主题内容,本规范规定广2CK82型硅开关二级管（以ド简称器件）的详细要求.,1-2适应范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3分美,本规范根据器件质量保证等级进行分类,141器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》1. 3条的规定,提供质量保’证等级为普军、特军和超特,军二级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4023-86半导体分立器件 第2部分:整流二级管,GB 6571-86小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法,GB 7581-87半导体分立器件外形尺寸,GJB 33-85 半导体分立器件总韧范,GJB128—86半导体分立器件试睑方法,3要求,3.I 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料应为铜包铁丝丒.（材料号:1018）,引线涂层应镀锡或浸锡,对引出端另有要求时,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,SJ 50033.55—94,可在合同或订货单中规定（见配3条）.,3.2-2器件结构,在器件芯片的两面和引出端之间采用高温冶金镶合结构,这种器件为玻璃封接非空腔结,构,3.2.3外形尺寸,外形尺寸应符合GB 7581中的D2 —O2A型,见图員,H,II,注:D厶为引线弯曲成直角后器件安装的最小轴向长度,图1外形图,33最大额定值和主要电特性,3.3.1最大额定值,注S1）＞60ヒ时,按1. llmW/で线性降额,降额曲线见图2,2 ヽ-,型 号,尸パ,(mW),Van,(V),叫WM,(V),ヵ,WO (mA),T5,(C) (C),2CK82A,100,15 10,10 250 宀 55fl5 ロr 55^ 175,2CK82B 30 20,2CK82c 45 30,2CK82D , 60 40,2CK82E 75 50,SJ 50033- 55-94,3-3-2主要电特性 Ta=25C,型 号,h =lmA,(V),仁,If =10mA,(V),如,ム=アRWM,“,ヅR K匕,Ta P25C,(*A).,レ,厶”般,二 10mA,R =50,(ns),a,f = 0+ 5MHz,k喟=50mV,17H — OV,(pF),2CK82A,6 8 く 0. 1 く 5 <3,2CK82B,2CK82C,2CK82D,2CK82E,3.4电测试要求,电测试要求应符合GB 4023、GB 6571及本规范的规定.,3-5标志,标志应符告GJB 33和本规范的规定.嗅号标志可不限于一行内,制造厂可省略下列标志:,a.制造厂的识别:,b.检验批识别代码,3-5-I极性标志,器件的负极端应采用鲜明的色带标记,以示出器件的极性,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33的表2和本规范的规定,其测试应按本规范表1进行,超过本规范表1,极限值的器件应予以剔除,筛选くGJB 33）表2 测 试 或 试 験,3.热冲击除低温为ー55 C,循环10次外,其余同试验条件F,4,恒定加速度不要求,5.密封不要求,6.高温反偏试验条件 A, % = Frwm J — 48h,7.中间电参数测试叫"Kl,8.电老化Zf ~ !,5ム"-96htTA - 25 ± 5 C,9,最后测试,表1和A2分组（直流参数）；,バル =初始值变化的士 50mVi,△エF初始值的10。%或2QnA,取较大者,—3 —,SJ 50033- 55-94,4"质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33和本规范的规定,￠4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4". 2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4 3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4-5检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定,4.5.1 浪涌电流（し斓）,应在二极管正向施加500mA浪涌峰值电流（ルsv ）并且这些峰值电流应与平均整流电流,（れ）（见3.3. D迭加,釆用方波脉冲,脓冲宽度为10ms.占空比为2%,浪涌一次.,4.5 -2脉冲测试,脉冲测试条件应按GJB 128的3. 3. 2. I的规定,表! A组检验,--- d ---,检验或试验,GB 6571,LTPD 符号,极限值,单位,方法条 件最小最大,AI分组,外观及GJB 128,5,机械检验2071,A2分组,正向电东2Iし2……
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